uk

mfflogo 

Najít

Semináře

Hiroshi Yasuoka: Emergent Weyl fermion excitations in Tap and NbP explored by 93Nb NMR and 181Ta NQR
Begin: 06.12.2017, 14:30
Location: lecture room F2, first floor Ke Karlovu 5

Oddělení se věnuje výzkumu struktury krystalických materiálů pomocí difrakce rentgenového záření nebopomocí rozptylu neutronů či synchrotronového záření. Hlavní směr výzkumu je orientován nastrukturní analýzu tenkých vrstev, multivrstev, povrchů a nanokrystalických látekcílem nalézt vztahy mezi strukturou a vlastnostmi látek. Výzkumný program se postupně vyvíjel s volbou nových materiálů (materiály práškové metalurgie, tenké vrstvy tvrdých kovů a ferroelektrik, polovodiče, magnetika, magnetické a polovodičové multivrstvy, kvantové tečky, kapalné krystaly, fullerény, jílové materiály a mnoho dalších).

Pracovníci oddělení se také již dvě desítky let významně angažujíčinnosti Krystalografické společnosti sdružující odborníkyoblasti krystalografie a strukturní analýzyČeské republice a na Slovensku (http://www.xray.cz) a spoluorganizovali několik velkých mezinárodních konferencí.

Ukázky odborných publikací

  1. N. Hrauda, J. J. Zhang, H. Groiss, J. C. Gerharz, T. Etzelstorfer, J. Stangl, V. Holy, C. Deiter, O. H. Seeck and G. Bauer, Closely spaced SiGe barns as stressor structures for strain-enhancement in silicon, "Applied Physics Letters" 2013, 102, (3), 032109.
  2. O. Caha, A. Dubroka, J. Humlicek, V. Holy, H. Steiner, M. Ul-Hassan, J. Sanchez-Barriga, O. Rader, T. N. Stanislavchuk, A. A. Sirenko, G. Bauer and G. Springholz, Growth, Structure, and Electronic Properties of Epitaxial Bismuth Telluride Topological Insulator Films on BaF2 (111) Substrates, "Crystal Growth & Design" 2013, 13, (8), 3365-3373.
  3. J. Endres, S. Danis and G. Bauer, The misfit dislocation density profile in graded SiGe/Si( 001) layers prepared at different temperatures (vol 25, 175802, 2013), "Journal of Physics-Condensed Matter" 2013, 25, (49), 499501.
  4. R. Kuzel, J. Cizek and M. Novotny, On X-Ray Diffraction Study of Microstructure of ZnO Thin Nanocrystalline Films with Strong Preferred Grain Orientation, "Metallurgical and Materials Transactions a-Physical Metallurgy and Materials Science" 2013, 44A, (1), 45-57.
  5. N. Hrauda, J. J. Zhang, H. Groiss, T. Etzelstorfer, V. Holy, G. Bauer, C. Deiter, O. H. Seeck and J. Stangl, Strain relief and shape oscillations in site-controlled coherent SiGe islands, "Nanotechnology" 2013, 24, (33), 335707.
  6. D. Kriegner, S. Assali, A. Belabbes, T. Etzelstorfer, V. Holy, T. Schulli, F. Bechstedt, E. Bakkers, G. Bauer and J. Stangl, Unit cell structure of the wurtzite phase of GaP nanowires: X-ray diffraction studies and density functional theory calculations, "Physical Review B" 2013, 88, (11), 115315.
  7. Z. Matej, L. Matejova and R. Kuzel, XRD analysis of nanocrystalline anatase powders prepared by various chemical routes: correlations between micro-structure and crystal structure parameters, "Powder Diffraction" 2013, 28, S161-S183.
  8. R. Kuzel, Z. Matej and M. Janecek,In-Situ X-Ray Diffraction Study of Thermal Stability of Cu and Cu-Zr Samples Processed by ECAP, in Recrystallization and Grain Growth V, edited by M. Barnett (Trans Tech Publications Ltd, Stafa-Zurich, 2013), Vol. 753, pp. 279-284.
  9. D. E. Parkes, L. R. Shelford, P. Wadley, V. Holy, M. Wang, A. T. Hindmarch, G. van der Laan, R. P. Campion, K. W. Edmonds, S. A. Cavill and A. W. Rushforth, Magnetostrictive thin films for microwave spintronics, "Scientific Reports" 2013, 3, 2220.

Výuka

Ve výuce je kladen důraz na podrobný výklad krystalografie a difrakčních metod.
Jedná se o obory, ve kterých má toto oddělení mnohaletou tradici a je respektovaným pracovištěm ve výchově specialistů orientovaných na strukturní analýzu látek.
Významně se též angažujepublikování celostátně používaných knižních a internetových výukových textů, např.:

  • V. Valvoda, M. Polcarová, P. Lukáč: učebnice Základy strukturní analýzy, Karolinum, Praha 1992.
  • Internetový výukový program Kurs krystalografie a strukturní analýzy na www.xray.cz/krystalografie
  • Internetový kurs pro talentovanédětirámci projektu Talnet, demo na www.xray.cz/kurs/

Stránky oddělení: http://www.xray.cz/xray.htm


Zaměstnanci a studenti oddělení:

Vedoucí oddělení: Prof. RNDr. Radomír Kužel CSc

Pedagogičtí pracovníci: Doc. RNDrStanislav DanišPh.D.
  RNDr. Milan Dopita, Ph.D.
  Prof. RNDrVáclav HolýCSc
  Prof. RNDrRadomír KuželCSc.
  MgrLukáš Horák, Ph.D.
  Mgr. Zdeněk Matěj, Ph.D.
 
Vědečtí pracovníci: Dominik Kriegner, Ph.D.
   
Doktorandi Mgr. Jan Endres
  Mgr. Jana Matějová
  Mgr. Lea Chlanová
  RNDr. Tereza Václavů
  Mgr. Petr Cejpek
 
Studenti: Tomáš  Tato emailová adresa je chráněna před spamboty, abyste ji viděli, povolte JavaScript

Najdete nás na Facebooku



 

pro studenty moje

banner facility 2